Equipo

Roger Artigas Pursals

Director de Investigación
Licenciatura en Ciencias Físicas por la Universidad Autónoma de Barcelona (1991-1996).

Doctor en Ciencias Físicas por la Universidad Politécnica de Cataluña (1996-2001).

Area de especialización en Metrología Óptica de superficies técnicas. En el año 2001 creación de la empresa spin-off de la UPC, Sensofar Tech SL, donde actualmente ocupa el cargo de Vicepresidente en metrología óptica.
eMail
roger.artigas-pursals@upc.edu
Phone
93 739 89 06 / 89 10
Futur UPC
https://futur.upc.edu/RogerArtigasPursals
ORCID
0000-0002-6893-2934
Título
Tareas de ingeniería óptica requeridas dentro del proyecto Misiones 2024 ASUMO -Arquitectura de Autonomía y Conciencia Situacional para UAS y Movilidad Aérea
Estudio del arte actual de los algoritmos de medida y calibración para la proyección de franjas.
Estudio e implementación de técnicas óptico computacionels avanzadas aplicada en sistemas de metrología óptica de superficies
Estudio y desarrollo de tecnologías ópticas para la medición de superficies de gran área, con resolución nanométrica. Hito 2: Diseño y fabricación del segundo prototipo, validación de especificaciones, ensayos y transferencia de documentación.
Estudio y desarrollo de sensores ópticos ultra-rápidos para metrología tridimensional de superficies
Título

Autor: Martínez, P.. ESTUDI I DESENVOLUPAMENT DE SENSORS ÒPTICS ULTRA-RÀPIDS PER A METROLOGIA TRIDIMENSIONAL DE SUPERFÍCIES. 10/02/2023. Excel·lent Cum Laude. Direcció: Artigas, R.; Bermudez, C.. Universitat Politècnica de Catalunya. URL.

Autor: Bermudez, C.. Estudi i desenvolupament d'un nou sistema d'inspecció de stents basat en tècniques de metrologia òptica. 22/05/2017. Excel·lent Cum Laude. Direcció: Artigas, R.; Laguarta, F.. Universitat Politècnica de Catalunya. URL.

Autor: Cadevall, C.. New developments in optical suface profiling. 26/03/2007. Excel·lent Cum Laude. Direcció: Laguarta, F.; Artigas, R.. Universitat Politècnica de Catalunya.

Título

Zhukova, O.; Artigas, R.; Carles, G.. Computational self-corrected quantitative 3D topographic imaging. Scientific reports. 2025. Volum: 15. Número: 1. URL. DOI. JCR-Science Edition. FI: 3.9. Q1;

Martínez, P.; Bermúdez, C.; Artigas, R.; Carles, G.. Single-shot optical surface profiling using extended depth of field 3D microscopy. Optics express. 2022. Volum: 30. Número: 19. Pàgs: 34328~34328. URL. DOI. JCR-Science Edition. FI: 3.8. Q2;

Järvinen, H.; Kassamakov, I.; Viitala, T.; Bermúdez, C.; Artigas, R.; Martínez, P.. Step height standards based on self-assembly for 3D metrology of biological samples. Measurement science and technology. 2020. Volum: 31. Número: 9. Pàgs: 094008-1~094008-1. URL. DOI. JCR-Science Edition. FI: 2.046. Q3;

Bermudez, C.; Laguarta, F.; Cadevall, C.; Matilla, A.; Ibañez, S.; Artigas, R.. Stent optical inspection system calibration and performance. Applied optics. 2017. Volum: 56. Número: 9. Pàgs: 134~134. URL. DOI. JCR-Science Edition. FI: 1.791. Q3;

Florian, C.; Caballero, F.; Fernández, J.; Artigas, R.. Printing of silver conductive lines through laser-induced forward transfer. Applied surface science. 2016. Volum: 374. Pàgs: 265~265. URL. DOI. CiteScore. FI: 8.7.

Florian, C.; Caballero, F.; Fernández, J.; Artigas, R.. Conductive silver ink printing through the laser-induced forward transfer technique. Applied surface science. 2015. Volum: 336. Pàgs: 304~304. URL. DOI. CiteScore. FI: 8.7.

Pinto, A.; Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. Testing and applicability of the UPC-ZEBRA interferometer as a phasing system in segmented mirror telescopes. Applied optics. 2004. Volum: 43. Número: 5. Pàgs: 1091~1091. JCR-Science Edition. FI: 1.799. Q2;

Laguarta, F.; Pinto, A.; Artigas, R.; Cadevall, C.. 09New interferometric technique for piston measurement in segmented mirros. Journal of optics A. Pure and applied optics. 2002. Volum: 4. Pàgs: S369~S369. JCR-Science Edition. FI: 1.274. Q2;

Laguarta, F.; Al-Khatib, I.; Artigas, R.. Laser profiler based on the degth focus principle. Journal of optics. Nouvelle revue d'optique. 1998. Volum: 29. Número: 3. Pàgs: 236~236. JCR-Science Edition. FI: 0.338. Q3;

Título

Zhukova, O.; Artigas, R.; Carles, G.. Mapping and correcting residual flatness errors in optical metrology for high precision surface measurements. SPIE Optical Metrology 2025.

Artigas, R.. Computational correction of scanner non-linearity in 3D microscopy. Optica Imaging Congress.

Artigas, R.. Suppression of scanning nonlinearities through computational self-correction in optical profilometry. - SPIE Photonics Europe 2024.

Zhukova, O.; Artigas, R.; Carles, G.. Computational self-correction of scanning nonlinearities in optical profilometry. SPIE Optical Metrology 2023. .

Martínez, P.; Bermúdez, C.; Artigas, R.. 3D optical sensor in continuous motion. Euspen‘s 22nd International Conference and Exhibition. .

Martínez, P.; Bermúdez, C.; Artigas, R.; Carles, G.. Extended depth of field microscopy for single shot 3D surface profiling. Applied Industrial Spectroscopy 2021.

Martínez, P.; Bermúdez, C.; Artigas, R.. High repetition rate 3D optical sensor. Euspen‘s 21th International Conference and Exhibition.

Martínez, P.; Bermúdez, C.; Carles, G.; Cadevall, C.; Matilla, A.; Mariné, J.; Artigas, R.. Metrological characterization of different methods for recovering the optically sectioned image by means of structured light. SPIE Optical Metrology 2021. .

Martínez, P.; Bermúdez, C.; Moya, M.; Artigas, R.. Small footprint high-speed optical 3D profiler. Euspen‘s 20th International Conference and Exhibition. .

Martínez, P.; Bermúdez, C.; Cadevall, C.; Matilla, A.; Artigas, R.. Three-dimensional imaging confocal profiler without in-plane scanning. Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology 2020. .

Bermúdez, C.; Martínez, P.; Cadevall, C.; Artigas, R.. Active illumination focus variation. SPIE Optical Metrology 2019. .

Bermúdez, C.; Martínez, P.; Cadevall, C.; Artigas, R.. High-speed, roll to roll coherence scanning Interferometry in a laser texturing process. Euspen‘s 19th International Conference and Exhibition. .

Bermúdez, C.; Felgner, A.; Martínez, P.; Matilla, A.; Cadevall, C.; Artigas, R.. Residual flatness error correction in three-dimensional imaging confocal microscopes. Optical Micro- and Nanometrology VII. .

Bermúdez, C.; Artigas, R.; Martínez, P.; Kassamakov, I.. Round robin test on V-shape bio-imaging transfer standard for determination of the instrument transfer function of 3D optical profilers. Three-Dimensional and Multidimensional Microscopy: Image Acquisition and Processing XXV. .

Matilla, A.; Bermudez, C.; Mariné, J.; Martinez, D.; Cadevall, C.; Artigas, R.. Confocal unrolled areal measurements of cylindrical surfaces. SPIE Optical Metrology 2017. .

Bermúdez, C.; Laguarta, F.; Cadevall, C.; Matilla, A.; Ibañez, S.; Artigas, R.. Novel stent optical inspection system. Imaging and Applied Optics 2016. .

Matilla, A.; Mariné, J.; Perez, J.; Cadevall, C.; Artigas, R.. Three-dimensional measurements with a novel technique combination of confocal and focus variation with a simultaneous scan. Optical Micro- and Nanometrology VI. .

Diaz-Pinto, A.; Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. Non-contact measurement of aspherical and freeform optics with a new confocal tracking profiler. SPIE Optical Systems Design 2011. .

Cadevall, C.; Oriach, C.; Artigas, R.; Pinto, A.; Laguarta, F.. Improving the measurement of thick and thin films with optical profiling techniques. Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V. .

Oriach, C.; Laguarta, F.; Cadevall, C.; Artigas, R.; Pinto, A.. Deep 3D Optical Metrology. Focus on Microscopy 2007.

Laguarta, F.; Artigas, R.; Pinto, A.; Cadevall, C.; Oriach, C.. Innovando en Metrología Óptica de Superficies. Las contribuciones del CD6. VIII Reunión Nacional de Óptica.

Rominsky, F.; Wojt, A.; Novella, M.; Artigas, R.; Laguarta, F.; Cadevall, C.. 3D-shape and texture measurements on the micro and nano-scales using a new dual-technology optical sensor. 2nd International Symposium on Photonics in Measurement.

Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. 3D-shape measurement of nozzles on the micrometric scale. Photonics Europe.

Artigas, R.; Laguarta, F.; Cadevall, C.. Dual-technology optical sensor head for 3D surface shape measurements on the micro and nano-scales. Photonics Europe.

Cadevall, C.; Artigas, R.; Laguarta, F.. Development of confocal-based techniques for shape measurements on structured surfaces containing dissimilar materials. Optical Metrology, Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection III.

Cadevall, C.; Artigas, R.; Laguarta, F.. Development of confocal-based techniques for shape measurements on structured surfaces containing dissimilar materials. SPIE Optical Metrology 2003. .

Pinto, A.; Laguarta, F.; Artigas, R.. New interferometric technique for piston measurements in segmented mirros. 3rd Topical Meeting on Optoelectronic Distance Measurement and Applications.

Laguarta, F.; Artigas, R.; Pinto, A.. Metrología 3D de superficies pulidas y rugosas mediante un nuevo perfilómetro confocal. 2º Congreso Español de Metrología.

Artigas, R.; Pinto, A.; Laguarta, F.. Three-dimensional micromeasurements on smooth and rough surfaces with a new confocal optical profiler. Euroopto symposium on industrial lasers and inspection/environsense..

Artigas, R.. THREE-DIMENSIONAL MICROMEASUREMENTS ON SMOOTH AND ROUGH SURFACES WITH A NEW CONFOCAL OPTICAL PROFILER. Euroopto symposium on industrial lasers and inspection/environsense..

Laguarta, F.; Artigas, R.; Pinto, A.. Micromeasurements on smooth surfaces with a new confocal optical profiler. SPIE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON INTELLIGENT SYSTEMS AND ADVANCED MANUFACTURING.

Al-Khatib, I.; Artigas, R.; Vega, F.; Armengol, J.; Lupon, N.; Laguarta, F.. Perfilómetro óptico confocal. V Reunión Nacional de Óptica.

Artigas, R.. PERFILÓMETRO ÓPTICO CONFOCAL. V Reunión Nacional de Óptica.

Título

Artigas, R.. DEVICE AND METHOD FOR OPTICALLY INSPECTING AND ANALYSING STENT-LIKE OBJECTS. Número de registre: WO2015/096874. Data de registre: 2013-12-23 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Països d'explotació: Entitat titular: SENSOFAR-TECH, S.L..

Laguarta, F.; Artigas, R.. METHOD AND DEVICE FOR NON-CONTACT MEASURING SURFACES. Número de registre: PCTEP2011058281. Data de registre: 2011-05-20 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Països d'explotació: Entitat titular: Universitat Politècnica de Catalunya.

Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. Optical metrology method for determining the three-dimensional topography of an orifice and apparatus for determining three-dimensional topographies according to said method. Número de registre: PCT 3075-4. Data de registre: 2004-10-08 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Àmbit: internacional. Països d'explotació: Entitat titular: UPC.

Artigas, R.; Laguarta, F.; Cadevall, C.. Perfilómetro óptico de tecnología dual (Confocal e Interferométrica) para la inspección y medición tridimensional de superficies. Número de registre: P200401071. Data de registre: 2004-04-23 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Àmbit: estatal. Països d'explotació: Entitat titular: UPC.

Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. Procedimiento de metrologia óptica para la determinación de la topografía tridimensional de un orificio. Número de registre: P200302355. Data de registre: 2003-10-10 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Àmbit: estatal. Països d'explotació: Entitat titular: UPC.