Team

Cristina Cadevall Artigues

Enginyeria de Software
Doctora per la Universitat Politécnica (2007) va obtenir els títols d'Enginyera Tècnica de Telecomunicacions (1992) i Enginyera Electrònica (1994) a l'Escola d'Enginyeria La Salle (URL). Treballa com a investigadora al CD6 des de 1996. Les seves àrees d'expertesa són la metrologia òptica, el processat d'imatges i el desenvolupament de programari.
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Cristina Cadevall
Title

Autor: Sánchez-Herrero, E.. Diseño e implementación de un laboratorio destinado a la validación clinica de ayudas para la percepción y movilidad en pacientes con limitación de campo periférico. 21/01/2022. Excel·lent Cum Laude. Direcció: Gispets, J.; Cadevall, C.. Universitat Politècnica de Catalunya. URL.

Title

Bermudez, C.; Laguarta, F.; Cadevall, C.; Matilla, A.; Ibañez, S.; Artigas, R.. Stent optical inspection system calibration and performance. Applied optics. 2017. Volum: 56. Número: 9. Pàgs: 134~134. URL. DOI. JCR-Science Edition. FI: 1.791. Q3;

Pladellorens, J.; Pinto, A.; Segura, J.; Cadevall, C.; Anto, J.; Pujol, J.; Vilaseca, M.; Coll, J.. A device for the color measurement and detection of spots on the skin. Skin research and technology. 2008. Volum: 14. Número: 1. Pàgs: 65~65. URL. DOI. JCR-Science Edition. FI: 1.348. Q3;

Pladellorens, J.; Pinto, A.; Segura, J.; Cadevall, C.; Anto, J.; Pujol, J.; Vilaseca, M.; Coll, J.. Un sistema para la medida del color y la detección de manchas en la piel. Optica pura y aplicada. 2007. Volum: 40. Número: 1. Pàgs: 65~65. SJR - SCImago Journal Rank.

Pinto, A.; Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. Testing and applicability of the UPC-ZEBRA interferometer as a phasing system in segmented mirror telescopes. Applied optics. 2004. Volum: 43. Número: 5. Pàgs: 1091~1091. JCR-Science Edition. FI: 1.799. Q2;

Laguarta, F.; Pinto, A.; Artigas, R.; Cadevall, C.. 09New interferometric technique for piston measurement in segmented mirros. Journal of optics A. Pure and applied optics. 2002. Volum: 4. Pàgs: S369~S369. JCR-Science Edition. FI: 1.274. Q2;

Arasa, J.; Pizarro, C.; Cadevall, C.; Tomas, N.. Robust tool for simulating and modelling complex optical systems. Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering. 1999. Volum: 3737. Número: 0. Pàgs: 109~109. SJR - SCImago Journal Rank. FI: 0.054.

Title

Sánchez-Herrero, E.; Gispets, J.; Cadevall, C.; Torrents, A.. MoviLab. Laboratorio de investigación de visión y movilidad perteneciente a la Facultad de óptica y Optometría de Terrassa. 6as Jornadas de la Sociedad española de Baja Visión.

Martínez, P.; Bermúdez, C.; Carles, G.; Cadevall, C.; Matilla, A.; Mariné, J.; Artigas, R.. Metrological characterization of different methods for recovering the optically sectioned image by means of structured light. SPIE Optical Metrology 2021. .

Martínez, P.; Bermúdez, C.; Cadevall, C.; Matilla, A.; Artigas, R.. Three-dimensional imaging confocal profiler without in-plane scanning. Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology 2020. .

Bermúdez, C.; Martínez, P.; Cadevall, C.; Artigas, R.. Active illumination focus variation. SPIE Optical Metrology 2019. .

Bermúdez, C.; Martínez, P.; Cadevall, C.; Artigas, R.. High-speed, roll to roll coherence scanning Interferometry in a laser texturing process. Euspen‘s 19th International Conference and Exhibition. .

Sánchez-Herrero, E.; Cadevall, C.; Gispets, J.; Torrents, A.. Primera aproximación al diseño de un laboratorio de visión y movilidad. 1er Congreso Internacional On Line en Salud Visual.

Bermúdez, C.; Felgner, A.; Martínez, P.; Matilla, A.; Cadevall, C.; Artigas, R.. Residual flatness error correction in three-dimensional imaging confocal microscopes. Optical Micro- and Nanometrology VII. .

Matilla, A.; Bermudez, C.; Mariné, J.; Martinez, D.; Cadevall, C.; Artigas, R.. Confocal unrolled areal measurements of cylindrical surfaces. SPIE Optical Metrology 2017. .

Bermúdez, C.; Laguarta, F.; Cadevall, C.; Matilla, A.; Ibañez, S.; Artigas, R.. Novel stent optical inspection system. Imaging and Applied Optics 2016. .

Matilla, A.; Mariné, J.; Perez, J.; Cadevall, C.; Artigas, R.. Three-dimensional measurements with a novel technique combination of confocal and focus variation with a simultaneous scan. Optical Micro- and Nanometrology VI. .

Diaz-Pinto, A.; Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. Non-contact measurement of aspherical and freeform optics with a new confocal tracking profiler. SPIE Optical Systems Design 2011. .

Cadevall, C.; Oriach, C.; Artigas, R.; Pinto, A.; Laguarta, F.. Improving the measurement of thick and thin films with optical profiling techniques. Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V. .

Oriach, C.; Laguarta, F.; Cadevall, C.; Artigas, R.; Pinto, A.. Deep 3D Optical Metrology. Focus on Microscopy 2007.

Laguarta, F.; Artigas, R.; Pinto, A.; Cadevall, C.; Oriach, C.. Innovando en Metrología Óptica de Superficies. Las contribuciones del CD6. VIII Reunión Nacional de Óptica.

Pladellorens, J.; Pinto, A.; Cadevall, C.; Pujol, J.; Vilaseca, M.. Dispositivo para la medida del color y detección de manchasen la piel. VIII Reunión Nacional de Óptica.

Rominsky, F.; Wojt, A.; Novella, M.; Artigas, R.; Laguarta, F.; Cadevall, C.. 3D-shape and texture measurements on the micro and nano-scales using a new dual-technology optical sensor. 2nd International Symposium on Photonics in Measurement.

Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. 3D-shape measurement of nozzles on the micrometric scale. Photonics Europe.

Artigas, R.; Laguarta, F.; Cadevall, C.. Dual-technology optical sensor head for 3D surface shape measurements on the micro and nano-scales. Photonics Europe.

Cadevall, C.; Artigas, R.; Laguarta, F.. Development of confocal-based techniques for shape measurements on structured surfaces containing dissimilar materials. Optical Metrology, Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection III.

Navarrete, H.; Cadevall, C.; Boudayn, M.; Anto, J.; Pladellorens, J.; Colom, J.F.; Tosas, A.. System for off-line optical paper inspection and quality control. Optical Metrology, Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection III.

Cadevall, C.; Artigas, R.; Laguarta, F.. Development of confocal-based techniques for shape measurements on structured surfaces containing dissimilar materials. SPIE Optical Metrology 2003. .

Title

Cadevall, C.; Pladellorens, J.; Pintó, A.; Pujol, J.; Segura, J.; Vilaseca, M.. Dispositivo para la detección del color de la piel y del color y tamaño de las manchas en la piel. Número de registre: P200800202. Data de registre: 2008-01-16 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Àmbit: estatal. Països d'explotació: Entitat titular: Universitat Politècnica de Catalunya.

Pladellorens, J.; Cadevall, C.; Tosas, A.; Navarrete, H.. Dispositivo para la determinación del tamaño de las perforaciones y análisis de rayas en el papel. Número de registre: P200301444. Data de registre: 2006-10-16 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Àmbit: estatal. Països d'explotació: Entitat titular: UPC.

Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. Optical metrology method for determining the three-dimensional topography of an orifice and apparatus for determining three-dimensional topographies according to said method. Número de registre: PCT 3075-4. Data de registre: 2004-10-08 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Àmbit: internacional. Països d'explotació: Entitat titular: UPC.

Artigas, R.; Laguarta, F.; Cadevall, C.. Perfilómetro óptico de tecnología dual (Confocal e Interferométrica) para la inspección y medición tridimensional de superficies. Número de registre: P200401071. Data de registre: 2004-04-23 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Àmbit: estatal. Països d'explotació: Entitat titular: UPC.

Laguarta, F.; Artigas, R.; Cadevall, C.. Procedimiento de metrologia óptica para la determinación de la topografía tridimensional de un orificio. Número de registre: P200302355. Data de registre: 2003-10-10 00:00:00.0. País de registre: Espanya. Àmbit: estatal. Països d'explotació: Entitat titular: UPC.