Centre for Sensors, Instruments and Systems Development
Universitat Politècnica de Catalunya
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Cristina Cadevall Artigues
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Oriach Font, C., Laguarta, F., Cadevall, C., Artigas, R., Pintó, A. (2008): "Deep 3D Optical Metrology". USA
Pladellorens, J., Pintó,A., Segura, J., Cadevall, C., Antó, J., Pujol, J., Vilaseca, M., Coll, J. (2007): "Un sistema para la medida del color y la detección de manchas en la piel." Óptica Pura y Aplicada. Volum 40, nº1, 65-71.
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Rambla de Sant Nebridi, 10 · 08222 · Terrassa (Barcelona)
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