Centro de Desarrollo de Sensores, Instrumentación y Sistemas
Universitat Politècnica de Catalunya
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Metrología óptica
Desarrollo de nuevas aplicaciones metrológicas a escala micro y nanométrica basadas en técnicas de óptica adaptativa.
La utilización de frentes de onda cada vez de mayor complejidad (rotacionalmente asimétricos, con modos de alto orden inducidos, etc.) ... [+info]
Metrología óptica activa para aplicaciones en la escala nanométrica.
La óptica activa y adaptativa ha demostrado ya sus capacidades en el ámbito de la metrología óptica, como herramienta complementaria ... [+info]
Desarrollo de sistemas para la caracterización de infraestructuras ferroviarias.
El objetivo general del proyecto “Desarrollo de sistemas para la Caracterización de Infraestructuras Ferroviarias mediante Imagen Lidar (CIFIL)”, consiste en ... [+info]
Interferometría de realimetación adaptativa para aplicaciones metrológicas
En este proyecto se propone combinar la experiencia de los dos centros de investigación involucrados (ingeniería fotónica UPC-CD6 y OFI ... [+info]
Técnicas de secccionado óptico utilizando interferometria autorrealimentada: Aplicaciones en biofotónica.
La interferometría óptica autorrealimentada (OFI, Optical Feedback Interferometry) es una técnica de sensado óptico que se ha convertido en el tema ... [+info]
Perfilometría tridimensional de la piel humana mediante proyección de franjas
El proyecto plantea el desarrollo de una aplicación de perfilometría 3D basada en proyección de franjas orientada a la realización ... [+info]
Rambla de Sant Nebridi, 10 · 08222 · Terrassa (Barcelona)
